ET 2018 & IoT Technology 2019
カンファレンスプログラム
TS テクニカルセッション
TS-1
11月14日(水)9:30-11:00
アネックスホール[F201]

メトリクスによるソフトウェア品質評価・改善および製品品質実態 品質測定評価の落とし穴、コツ、ベンチマーク

思慮なく測定評価を導入すると誤った結論を導くなど悪影響をもたらしかねない。そこでメトリクスの理論と規模・複雑さといった基本的な測定、および、組込みソフトウェア開発における設計やソースコードを対象とした品質評価、改善の流れを解説する。そのうえで実践上の「落とし穴」と「コツ」を解説し、その一つとして目標に沿った多面的測定をもたらすゴール指向の手法Goal-Question-Metric(GQM)法を解説する。さらにその事例として、品質の国際規格ISO/IEC 25000シリーズを併用し得られた品質実態Waseda Software Quality Benchmarkを紹介する。

鷲崎 弘宜

早稲田大学 教授/国立情報学研究所 客員教授/株式会社システム情報 取締役(監査等委員)/株式会社エクスモーション 社外取締役

プロフィール

早稲田大学グローバルソフトウェアエンジニアリング研究所所長・教授、国立情報学研究所 客員教授、株式会社システム情報 取締役(監査等委員)、株式会社エクスモーション 社外取締役。ガイオ・テクノロジー株式会社 技術アドバイザ。著書に『ソフトウェアパターン』『ソフトウェア品質知識体系ガイドSQuBOK Guide』、訳書に『演習で学ぶソフトウエアメトリクスの基礎』など。文部科学省社会人教育事業enPiT-Proスマートエスイー事業責任者、IEEE CS Japan Chapter Vice-Chair, SEMAT Japan Chapter Chair, ISO/IEC/JTC1 SC7/WG20 Convenor, APSEC 2018 PC Co-Chair ほか。

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