エレクトロニクス実装学会バウンダリスキャン研究会

小間番号 : D-11-11
出展パビリオン : ユニバーシティ
 

出展品目カテゴリー

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出展のみどころ

 バウンダリスキャンはIEEE規格によるLSI実装ボードの相互接続試験方法ですが、欧米に比べ日本では普及が遅れています。
 エレクトロニクス実装学会バウンダリスキャン研究会は、バウンダリスキャンを日本で普及拡大させ、日本の電子製造業の競争力強化に貢献します。
 バウンダリスキャンはBGA(Ball Grid Array)素子を搭載したボードでも容易に短時間に低価格で試験できます。
 今回の展示ではバウンダリスキャンツールベンダー(アンドールシステムサポート/JTAG-Technologies, KeySight, 図研)のご協力によりツールの展示デモも行います。
 また隣のブースD11-10ではバウンダリスキャン研究会会員の愛媛大学と徳島大学でのバウンダリスキャンの最新研究成果を展示しています。

対応応用分野

  • オートモティブ
  • 家電/AV/アミューズメント
  • FA
  • 新通信/モバイル/ネットワーク
  • スマートエネルギー
  • 社会インフラ
  • 医療/介護
  • ロジスティックス
  • 農林/水産/鉱業
  • 航空/宇宙
  • 金融(銀⾏/証券/保険など)

連絡先情報

下記情報は来場者から出展者への事前アポイント・問合せを目的に公開しています。
それ以外の目的(セールス等)で無断に使用・転載する事を固く禁じます。

エレクトロニクス実装学会バウンダリスキャン研究会

バウンダリスキャン研究会

〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2

URL : https://web.jiep.or.jp/tech-committees/jtag.html