出展品目カテゴリー

テスト・検証サービス、大学／研究機関

出展のみどころ

Society 5.0を実現するためには，IoTシステムや自動運転システムなどの構成要素としたデバイス（集積回路）の高信頼化が必要である。また、高密度化された電子部品を安全かつ安心して利用するために、on-boardまたはon-chipでの接続欠陥検査技術（バウンダリスキャン技術）が求められている. 本研究室では, システムの市場稼働時にフィールドテストとして非破壊で集積回路自身によって故障の有無を判定する信頼性強化設計（Design for Trust）技術の研究・開発を行う。今回の展示内容は以下の通りになります。
1.IEEE1149.4アナログバウンダリスキャンによる微小抵抗計測技術〜三次元ICのTSV抵抗評価〜
2.車載システムの機能安全規格に準拠したPOSTの故障検出強化技術
3.モリコンピューティングデバイスにおける故障状態警告技術の開発
4.バウンダリスキャン技術を利用して集積回路の個体情報を獲得する真贋識別技術の開発

対応応用分野

• オートモティブ
• 家電/AV/アミューズメント
• FA
• 新通信/モバイル/ネットワーク
• スマートエネルギー
• 社会インフラ
• 医療/介護
• ロジスティックス
• 農林/水産/鉱業
• 航空/宇宙
• 金融（銀⾏/証券/保険など）

連絡先情報

下記情報は来場者から出展者への事前アポイント・問合せを目的に公開しています。
それ以外の目的（セールス等）で無断に使用・転載する事を固く禁じます。

愛媛大学　大学院理工学研究科　高橋研究室 愛媛大学大学院理工学研究科 愛媛県松山市文京町3番　愛媛大学大学院理工学研究科

TEL : 089-927-9955 E-mail : wang@cs.ehime-u.ac.jp URL : http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/