Embedded Technology West 2014
ETWest2014 dates

カンファレンス/IPAセミナー

7月29日(火) 15:50-16:50 【ルーム1】
高信頼化技術適用事例
ODC分析による欠陥除去と品質の成熟度可視化
~医療機器の安全性・品質を担保するために~

【講演内容】

Orthogonal Defect Classification(以下、ODC)分析(直交欠陥分類)は、個々の欠陥を複数の属性で分類することにより、効率的に原因・傾向分析する品質検証手法である。開発工程の問題箇所を特定すると共に、ソフトウェアの成熟度を多角的に評価できる利点がある。本セミナーでは、ODC分析の方法論とその有効性、および導入にあたっての取組みを紹介する。

講師画像
【講演者】
山崎 隆
オリンパスソフトウェアテクノロジー株式会社
担当部長
【プロフィール】
2008年- オリンパスソフトウェアテクノロジー株式会社にて、品質保証部/品質評価部 部長を経て、現在サポートセンター担当部長に至る
2001年- IBMビジネスコンサルティングサービスにて、各社の開発プロセス改革に従事
1981年- 日本IBM 藤沢/大和研究所にて、画像機器、PC周辺機器、HDD等の開発・企画業務に従事
1979年- エプソンにて、インクジェット・プリンターの基礎研究開発に従事
1979年  東京都立大工学部卒



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