Embedded Technology 2014
ET 2014 dates
IoTでビジネスが変わる! 組込み技術が進化する!成長分野を支える最先端技術とソリューションをアピール
ET 2014

イチオシ出展社紹介Presented by 電波新聞

株式会社アストロン(ブース:D-28) 半導体回路抽出システム「Neals」設計データから回路図検証

 アストロンはCADをはじめとするEDAと画像処理ソフトウエアの開発・販売を行っている。半導体業界向けのEDA開発では、設計からテスト、故障解析の工程に使用する作業支援プログラムの開発を行い、コストメリットの高いEDAを設計現場に供給する。

 「ET2014」ではEDAゾーンに出展し、半導体関連の製品を中心に展示。設計データ高速表示プログラム「SView―PC」と回路抽出システム「Neals」の2製品を紹介し、過去の導入実績とともに訴求する。

 SView―PCは、大規模な設計データを高速表示し、CADによる設計を容易に検証できる ツール。コストメリットに優れ、安価で手軽に使用できるため、半導体設計の幅広い分野で採用されている。

 複数のデータの重ね合わせ表示も可能。表示箇所を写真に撮るような感覚で保存し、いつでも瞬 時に確認箇所へ移動できる。また、選択されたパスを基準に、電気的に接続しているパスと多角形 を追跡しハイライト表示が行える。

 Windows版とUNIX版をそろえており、顧客の開発環境に合わせて選ぶことができるほか、評価版の無料ダウンロードもできる。

 Nealsは、設計データから回路図を起こし比較・検証ができるツール。回路とレイアウトの等価確認を簡単に行うことができる。配線、ビアから等電位追跡を行い、配線をハイライト表示できるため、つながっているセルと回路を確認し故障解析につながる。

 最近ではレイアウトデータしか残っていない古いデータからチップを起こすケースもあり、回路図の復元などに利用されることもある。Nealsもコストメリットに優れ、設計や故障解析などの用途で多く利用されている。

 両製品とも自社の開発製品のため、サポートも充実。専任のエンジニアを通じてのカスタマイズなどにも対応する。

 展示会場では実際にそれぞれのツールを稼働させてデモも行う。その他、電子顕微鏡を使った故障解析支援パッケージや画像処理ソフトも展示する。


(電波新聞 2014年11月12日掲載記事より転載)

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